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射頻放電等離子體

文章出處:等離子清洗機廠家 | 深圳納恩科技有限公司| 發(fā)表時間:2023-08-30
射頻放電等離子體一般有兩種不同的激發(fā)方式,分別為電感耦合和電容耦合,其可在低氣壓下產(chǎn)生高密度的等離子體。射頻等離子體中的電子能量通常可達幾個eV甚至更高,可以借助電子的高活性促進反應的進行,且不會對材料本底造成破壞,因此被廣泛應用于材料表面改性等領域。

(1)容性耦合等離子體源

射頻容性耦合等離子體源(CCP)被廣泛應用于半導體摻雜、刻蝕等領域,其基本結構簡單,一般由兩個分開的平行板所組成,極板上接入外加射頻電源。這種等離子體源中驅(qū)動電源的頻率一般在0.64MHz-160MHz,兩極板間隙較小,根據(jù)驅(qū)動源的數(shù)量可分為單頻等離子體源、雙頻等離子體源和多射頻源驅(qū)動放電。如圖1.1a為單頻源驅(qū)動放電,放電結構為一對平行極板,其中一個極板接射頻源,另一個極板接地;圖1.1b和1.1c為雙頻源驅(qū)動的放電,兩個射頻源的頻率不同,一般低頻源可控制到達極板的離子能量,高頻源控制離子通量,兩個射頻源可同時接入同一個電極,也可以把兩個射頻源分開接入不同的電極。此外,還有三種不同頻率射頻源驅(qū)動的三頻容性放電。在極板間接入射頻源后,射頻源將在兩極板間產(chǎn)生均勻的電場分布,極板間氣體中游離的電子由于質(zhì)量較輕,可以響應高頻電磁場的變化,通過不斷吸收電場能量并與氣體分子碰撞而電離產(chǎn)生新電子,進一步產(chǎn)生等離子體。
容性耦合等離子體示意圖
圖1.1 容性耦合等離子體示意圖
(2)感性耦合等離子體源

在1884年,Hittorf首次在實驗中發(fā)現(xiàn)感性放電(ICP),即“無電極的環(huán)形放電”。目前在材料的表面處理中普遍采用的感性耦合等離子體源主要有“盤香型線圈”ICP和柱狀線圈ICP,兩種等離子體源的結構如圖1.2所示。在感性耦合放電過程中,當線圈中通入射頻電流后會激發(fā)出感應電場,電子通過吸收感應電場的能量進一步與氣體分子發(fā)生碰撞而產(chǎn)生等離子體,這一放電模式被稱為感性模式(H模式),其產(chǎn)生的等離子體密度較高。當線圈中通入的射頻電流較低時,線圈兩端存在較高的電壓降,此時的放電主要由靜電場來驅(qū)動,這一模式稱為E模式。當處于E模式時,放電產(chǎn)生的鞘層較厚,電子密度較低,通過調(diào)節(jié)功率或者電流等參數(shù)放電將過渡到H模式,兩種模式之間可以相互轉(zhuǎn)化。此外,感性耦合等離子體主要通過介質(zhì)管將功率耦合給等離子體,在腔室內(nèi)部不需要高壓電極,因此這種放電產(chǎn)生的鞘層電壓降很小,可通過調(diào)節(jié)引出參數(shù)來獨立控制到達基底的離子通量。通常,為了進一步實現(xiàn)對到達基底離子能量的獨立控制,可在基底施加一個負偏壓實現(xiàn)。
圖 1.2 感性耦合等離子體源示意圖(a)盤香型線圈 ICP (b)柱狀線圈 ICP
圖 1.2 感性耦合等離子體源示意圖(a)柱狀線圈 ICP(b)盤香型線圈 ICP 

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